تعداد ۱۷ پاسخ غیر تکراری از ۱۸ پاسخ تکراری در مدت زمان ۸,۴۶ ثانیه یافت شد.

1. Designing, testing, and diagnostics- join them

المؤلف: International Test conference )3991: Baltimore, Md.(

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)

موضوع: ، Integrated circuits- Testing- congresses,، Electronic digital computers- Circuits- Testing-Congresses

رده :

TK

7874

.

I474

1993

2. Designing, testing, and diagnostics--join them : International Test Conference 1993 proceedings :October 17-21, 1993, Convention Center, Baltimore, Maryland, USA

المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع: ، Integrated circuits-- Testing-- Congresses,، Automatic checkout equipment-- Congresses

رده :

TK

7874

.

I474

1993

3. Electronics reliability and measurement technology :

المؤلف: edited by Joseph S. Heyman

المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)

موضوع: Integrated circuits-- Reliability-- Congresses,Integrated circuits-- Testing-- Congresses,Nondestructive testing-- Congresses

رده :

TK7874

.

E486

1988

4. Electronics reliability and measurement technology : nondestructive evaluation

المکتبة: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (طهران)

موضوع: ، Integrated circuits- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Reliability- Congresses,، Non- destructive testing- Congresses

5. ICMTS 93 : proceedings of the 1993 International Conference on Microelectronic Test Structures: March 22-25, 1993, Sitges, Barcelona, Spain

المؤلف: sponsored by the IEEE Electron Devices Society

المکتبة: (طهران)

موضوع: Integrated circuits - Testing - Congresses , Semiconductors - Testing - Congresses , Transistors - Testing - Congresses

رده :

TK

7874

.

I3233

1993

6. Integrated circuit and system desig

المؤلف: / Jos?� Monteiro, Ren?� van Leuken (eds.)

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Integrated circuits--Design and construction--Congresses,Integrated circuits--Testing--Congresses,Computers--Power supply--Congresses

رده :

TK

,

7874

7. Memory & LSI: digest of papers

المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع: Testing ، Integrated circuits,Congresses ، Integrated circuits-- Large scale integration,Congresses ، Semiconductor storage devices-- Testing,Congresses ، Microprocessors-- Testing

رده :

TK

7874

.

S42

1976

8. Proceedings

المؤلف: International Test Conference

المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع: ، Computer storage devices-- Congresses,، Integrated circuits-- Testing-- Congresses,، Semiconductor storage devices-- Testing-- Congresses

رده :

TK

7874

.

I474

9. Proceedings of the...International Conference on Microelectronic Test Structures

المؤلف: IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures

المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع: Testing - Congresses ، Integrated circuits

رده :

TK

7874

.

I3233

1994

10. Proceedings of the ... International Conference on Microelectronic Test Structures

المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع: Congresses ، Integrated circuits-- Testing

رده :

TK

7874

.

I3233a

11. Proceedings of the 1st European Test Conference, Paris, April 12-14, 1989

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)

موضوع: ، Integrated circuits -- Testing -- Congresses,، Automatic checkout equipment -- Congresses

رده :

TK

7874

.

E795

12. Reliability physics

المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع: Congresses ، Electronic apparatus and appliances-- Reliability,Congresses ، Electronic apparatus and appliances-- Testing,Congresses ، Integrated circuits-- Reliability,Congresses ، Integrated circuits-- Testing

رده :

TK

7870

.

S95

13. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI

المؤلف: edited by Fabrizio Lombardi and Mariagiovanna Sami

المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)

موضوع: Very large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits,Ultra large scale integration - Testing - Congresses ، Integrated circuits

رده :

TK

7874

.

N345

1987

14. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI

موضوع : ، Integrated circuits-- Very large scale integration-- Testing-- Congresses,، Integrated circuits-- Ultra large scale integration-- Testing-- Congresses

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

15. Testing and diagnosis of VLSI and ULSI

المؤلف: NATO Advanced Study Institute on Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI )7891: Como, Italy(

المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)

موضوع: ، Integrated circuits- Very large scale integration- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Ultra large scale integration- Testing- Congresses

رده :

TK

7874

.

N345

1987

16. Testing and diagnosis of VLSI and USLI

المؤلف: / Edited by Fabrizio Lombardi and Maria Giovannasami

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية 1 بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Integrated circuits--Very large scale integration - Testing-Congresses

رده :

TK

7874

.

N345

1987

17. 25th anniversary compendium of papers from International Test Conference

المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع: ، Integrated circuits-- Testing-- Congresses,، Electronic digital computers-- Circuits-- Testing-- Congresses

رده :

TK

7874

.

I593

1994

»
1
«

تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها